analizador por flUOrescencia de rayos x portátil

El X‑MET8000 de HITACHI es una familia de analizadores portátiles de fluorescencia de rayos X (XRF) diseñados para ofrecer análisis rápidos y no destructivos de una amplia variedad de materiales: Metales, Polvos, Plásticos, Suelos, Minerales, Aceites, Vidrios, entre otros. Permite identificar aleaciones y determinar su química en segundos, con límites de detección bajos y gran precisión, gracias a una combinación entre un tubo de rayos X de alto rendimiento y un detector de deriva de silicio (SDD) de área extensa

La línea X‑MET8000 incluye tres versiones: Smart, Optimum y Expert, cada una adaptada a diferentes aplicaciones como Reciclaje de Metales, Control de Calidad (PMI), Metales Preciosos, Cumplimiento de Normativas, Minería, Análisis de Suelos y Arqueometría. La versión Geo/Expert Geo, pensada para entornos de minería y suelos, incorpora la tecnología BOOST™ que multiplica hasta por 10 la sensibilidad, permitiendo detectar incluso elementos trazas críticos con gran fiabilidad

Ergonómico y resistente, este dispositivo pesa solo 1,5 kg, cuenta con una pantalla táctil a color, interfaz intuitiva y protección IP54 (resistente a polvo y agua), cumpliendo también con el estándar militar MIL‑STD‑810G. Puede almacenar hasta 100 000 resultados, exportarlos vía USB, Wi‑Fi o Bluetooth, e incluso integrarse con servicios en la nube como ExTOPE Connect o apps móviles, facilitando la gestión de datos en campo